渭南哪有配電箱公司
發(fā)布時間：2023-03-03 00:31:48
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試驗結(jié)果的評定，經(jīng)過高溫存放試驗后，待被試品恢復(fù)到試驗室環(huán)境溫度t測量其電氣機械性能時，應(yīng)符合規(guī)定要求。試驗后，設(shè)備的外觀和電氣性能仍符合產(chǎn)品技術(shù)條件的規(guī)定。濕熱試驗：1.試驗條件及試驗設(shè)備。(1)室內(nèi)應(yīng)裝有監(jiān)控溫、濕度的傳感器。(2)室內(nèi)任何兩點的溫差在任意瞬時不應(yīng)大于1℃，短期的溫度波動也必須保持在較小的范圍內(nèi)，以保證溫度容差(±2℃)，相對濕度容差(+2%、-3%)。(3)凝結(jié)水要連續(xù)排出試驗箱(室)外，在未純化處理時不得再次使用。
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每個試驗循環(huán)的組成：先是4個噴霧周期，每個噴霧周期之后都緊跟著一個濕熱儲存周期，在噴霧和濕熱儲存之后再在試驗用標(biāo)準(zhǔn)大氣條件下儲存1個周期。噴霧的濕度在15~35℃之間。濕熱儲存條件：溫度為(402)℃，相對濕度為(932)%。試驗用標(biāo)準(zhǔn)大氣壓，溫度(23±2)℃，相對濕度45%~55%。如果噴霧與儲存在不同的試驗箱(室)中進行，則應(yīng)注意避免在轉(zhuǎn)移試驗樣品時損失附著在樣品上的鹽溶液和對樣品造成的損害。在噴霧期間決不應(yīng)給樣品通電，在儲存期間通常也不通電。
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環(huán)境溫度試驗條件推薦按規(guī)定。設(shè)備分別置于高環(huán)境溫度和低環(huán)境溫度條件下，待設(shè)備溫升達到穩(wěn)定值后(但不小于4h)測其電氣性能。設(shè)備在額定負載條件下，模擬正常工作狀態(tài)分別在規(guī)定的高和低試驗環(huán)境溫度下，保持規(guī)定的試驗持續(xù)時間，待設(shè)備溫升達到穩(wěn)定值后(但不小于4h)測其電氣性能。設(shè)備應(yīng)能正常、可靠工作。試驗后，對其進行直觀檢查，應(yīng)注意是否有元件過熱、緊固件松動及絕緣損壞等跡象。高、低溫沖擊試驗，高、低溫沖擊試驗的目的是考核控制單元的儲存、運輸及使用過程中受空氣溫度迅速變化的能力，同時考核印制電路板組裝件的焊接質(zhì)量及對早期失效的元器件進行篩選。
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對于較大設(shè)備或在試驗箱(室)內(nèi)難以保持溫度在上述規(guī)定范圍內(nèi)，當(dāng)有關(guān)規(guī)定允許時，其范圍可適當(dāng)放寬，下限為10℃上限可延至40℃。根據(jù)試驗設(shè)備的特性和實驗室的條件，試驗設(shè)備也可留在試驗箱(室)中恢復(fù)或在另外的試驗箱(室)中恢復(fù)。留在試驗箱(室)中恢復(fù)時，應(yīng)在0.5h內(nèi)將相對濕度降到75±3%然后在05h內(nèi)將溫度調(diào)節(jié)到滿足15-35℃之間，相對濕度73%~77，空氣壓力86~106kPa的要求，溫度容差為±2℃。轉(zhuǎn)移到另外的試驗箱(室)中恢復(fù)時，轉(zhuǎn)移試驗設(shè)備的時間應(yīng)盡可能短，長不應(yīng)超過5min。在特定情況下，如果需要不同的恢復(fù)條件，有關(guān)規(guī)范應(yīng)加以規(guī)定。
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然后，試驗樣品應(yīng)在試驗用標(biāo)準(zhǔn)大氣條件下(溫度為(23±2)℃、相對濕度為45%~55%)儲存3天。在4個噴霧周期和濕熱儲存周期之后，接著在試驗用標(biāo)準(zhǔn)大氣下儲存3天構(gòu)成一個試驗循環(huán)。嚴(yán)酷等級所要求的試驗循環(huán)次數(shù)應(yīng)按照上述的規(guī)定。在將試驗樣品從鹽霧箱轉(zhuǎn)移到濕熱箱時應(yīng)盡量減少樣品上鹽溶液的損失。如果鹽霧箱能保持規(guī)定的濕度與溫度條件，在儲存階段樣品可繼續(xù)保存在鹽霧箱內(nèi)。如果試驗樣品由不止1個零件組成，則這些零件之間或這些零件與其他金屬零件之間不得彼此接觸，它們的排列應(yīng)不互相影響。