漢中專業(yè)抽屜柜廠家
發(fā)布時間：2024-02-16 00:27:20
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試驗(yàn)箱(室)內(nèi)壁和頂部的凝結(jié)水不應(yīng)滴落到試驗(yàn)設(shè)備上。試驗(yàn)設(shè)備的性能及電氣負(fù)載不應(yīng)明顯地影響工作空間內(nèi)的溫、濕度條件。試驗(yàn)程序：(1)將無包裝、不通電的試驗(yàn)設(shè)備，在“準(zhǔn)備使用”狀態(tài)下，按其正常工作位置，或按有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的狀態(tài)放入試驗(yàn)箱(室)的工作空間內(nèi)。(2)在溫度為(25±3)℃、相對濕度為45%~75%的條件下，使試驗(yàn)設(shè)備達(dá)到溫度穩(wěn)定之后，在1h內(nèi)將工作空間內(nèi)的相對濕度升高到不小于95%。注意：溫度穩(wěn)定也可在另一試驗(yàn)箱(室)內(nèi)進(jìn)行。
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試驗(yàn)的一般說明。(1)預(yù)處理。有關(guān)規(guī)范應(yīng)規(guī)定在試驗(yàn)前才立即進(jìn)行的清潔程序，也應(yīng)說明是否應(yīng)除去臨時表面保護(hù)層。注意：所用的清潔方法不應(yīng)影響鹽霧對樣品的作用，更不能引起二次腐蝕。在試驗(yàn)前，應(yīng)盡量避免用手接觸受試樣品的表面。(2)嚴(yán)酷等級(1)和嚴(yán)酷等級(2)將試驗(yàn)程序分成若干個規(guī)定的噴霧周期，每個噴霧周期之后接1個濕熱儲存周期；噴霧溫度在15~35℃之間，儲存條件為溫度為(40±2)℃，相對濕度(933)%。(3)嚴(yán)酷等級(3)至嚴(yán)酷等級(6)將試驗(yàn)程序分若干規(guī)定的試驗(yàn)循環(huán)。
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嚴(yán)酷等級，嚴(yán)酷等級定義。嚴(yán)酷等級(1)和(2)：是指噴霧周期數(shù)和接在每個噴霧周期后的濕熱儲存持續(xù)時間的組合。嚴(yán)酷等級(3)至(6)；是指試驗(yàn)循環(huán)數(shù)。一個試驗(yàn)循環(huán)有4個噴霧周期和緊跟在每個噴霧周期之后的濕熱儲存周期，在這4個噴霧周期和濕熱儲存周期后，還有1個在試驗(yàn)用標(biāo)準(zhǔn)大氣壓下的附加儲存周期。有關(guān)規(guī)定應(yīng)指定使用下述6種嚴(yán)酷等級中的哪一級，嚴(yán)酷等級(1):4個噴霧周期，每個2h，每個噴霧周期后有1個為期7天的濕熱儲存周期。嚴(yán)酷等級(2):3個噴霧周期，每個2h，每個噴霧周期后有1個為期20~2h的濕熱儲存周期。
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中間檢測，中間檢測時，不允許將試驗(yàn)樣品移出工作空間，恢復(fù)后進(jìn)行測量。如果要求中間檢測，有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)明確規(guī)定測量項(xiàng)目以及在條件試驗(yàn)的哪一(些)階段進(jìn)行測量?；謴?fù)，條件試驗(yàn)后，設(shè)備應(yīng)在標(biāo)準(zhǔn)大氣條件范圍內(nèi)(溫度為15~35℃；相對濕度為25%~75%；氣壓為86k-106kPa)進(jìn)行1~2h恢復(fù)處理。后檢測，應(yīng)在恢復(fù)階段結(jié)束后立即進(jìn)行，測量工作應(yīng)在30min內(nèi)完成。環(huán)境溫度試驗(yàn)，環(huán)境溫度試驗(yàn)是考核設(shè)備在規(guī)定的環(huán)境溫度的上限和下限情況下長期運(yùn)行的可靠性。試驗(yàn)箱的容積及其空氣循環(huán)應(yīng)使設(shè)備放入后，在5min內(nèi)溫度保持在規(guī)定的范圍內(nèi)。
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環(huán)境溫度試驗(yàn)條件推薦按規(guī)定。設(shè)備分別置于高環(huán)境溫度和低環(huán)境溫度條件下，待設(shè)備溫升達(dá)到穩(wěn)定值后(但不小于4h)測其電氣性能。設(shè)備在額定負(fù)載條件下，模擬正常工作狀態(tài)分別在規(guī)定的高和低試驗(yàn)環(huán)境溫度下，保持規(guī)定的試驗(yàn)持續(xù)時間，待設(shè)備溫升達(dá)到穩(wěn)定值后(但不小于4h)測其電氣性能。設(shè)備應(yīng)能正常、可靠工作。試驗(yàn)后，對其進(jìn)行直觀檢查，應(yīng)注意是否有元件過熱、緊固件松動及絕緣損壞等跡象。高、低溫沖擊試驗(yàn)，高、低溫沖擊試驗(yàn)的目的是考核控制單元的儲存、運(yùn)輸及使用過程中受空氣溫度迅速變化的能力，同時考核印制電路板組裝件的焊接質(zhì)量及對早期失效的元器件進(jìn)行篩選。