韓城專(zhuān)業(yè)的配電箱哪家好
發(fā)布時(shí)間：2024-05-11 00:26:50
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試驗(yàn)時(shí)，設(shè)備應(yīng)在沒(méi)有包裝及不工作狀態(tài)下進(jìn)行。設(shè)備首先置于溫度為的低溫箱中存放到規(guī)定時(shí)間1，然后取出置于試驗(yàn)室內(nèi)的環(huán)境溫度下保持時(shí)間為t，再放入到溫度為T(mén)的高溫箱中存放到規(guī)定時(shí)間，再取出置于試驗(yàn)室環(huán)境溫度下保持時(shí)間2。以此為一次循環(huán)。循環(huán)次數(shù)不應(yīng)小于5次。溫度T、TH及時(shí)間n1、t2取決于設(shè)備的熱容量及對(duì)產(chǎn)品要求考核的嚴(yán)酷程度，應(yīng)在有關(guān)產(chǎn)品的標(biāo)準(zhǔn)中加以規(guī)定。若無(wú)特殊需要，一般應(yīng)不低于本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：TL=-40℃、TH=+60℃、t1=t3≥30min、2min≤t2≤3min對(duì)于自動(dòng)兩箱設(shè)備，t2可以小于30s，而且不需要放在試驗(yàn)室溫度下。
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嚴(yán)酷等級(jí)，傾斜試驗(yàn)的嚴(yán)酷等級(jí)由傾斜角度和試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間2個(gè)參數(shù)來(lái)確定。正弦形搖擺試驗(yàn)的嚴(yán)酷等級(jí)由搖擺角度(縱搖、橫搖、首搖)或線(xiàn)加速度幅值(縱蕩、橫蕩、垂蕩)、搖擺周期和試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間3個(gè)參數(shù)來(lái)確定。傾斜試驗(yàn)和正弦形搖擺試驗(yàn)的嚴(yán)酷等級(jí)一般應(yīng)從中選取，有特殊要求者，可按有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定。隨機(jī)(不規(guī)則)搖擺試驗(yàn)的嚴(yán)酷等級(jí)由有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，變槳控制器的搖擺試驗(yàn)要求搖擺225°，周期10s，持續(xù)時(shí)間為30min。試驗(yàn)程序，初始檢測(cè)，按有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，對(duì)試驗(yàn)樣品進(jìn)行外觀檢查及機(jī)械、電性能檢測(cè)。
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嚴(yán)酷等級(jí)(1):4個(gè)噴霧周期，每個(gè)2h，每個(gè)噴霧周期后有1個(gè)為期7天的濕熱儲(chǔ)存周期。嚴(yán)酷等級(jí)(2):3個(gè)噴霧周期，每個(gè)h，每個(gè)噴霧周期后有1個(gè)為期20~22h的濕熱儲(chǔ)存周期。在15~35℃下噴鹽霧h，每次噴霧結(jié)束后將試驗(yàn)樣品轉(zhuǎn)移到濕熱箱中儲(chǔ)存，儲(chǔ)存條件按照溫度為(40±2)℃，相對(duì)濕度為(93±2)%構(gòu)成一個(gè)循環(huán)。嚴(yán)酷等級(jí)所要求的循環(huán)次數(shù)與儲(chǔ)存時(shí)間應(yīng)按上述的要求進(jìn)行。嚴(yán)酷等級(jí)(3)至嚴(yán)酷等級(jí)(6)：是指試驗(yàn)循環(huán)數(shù)。一個(gè)試驗(yàn)循環(huán)有4個(gè)噴霧周期和緊跟在每個(gè)噴霧周期之后的濕熱儲(chǔ)存周期，在4個(gè)噴霧周期和濕熱儲(chǔ)存周期后還有1個(gè)在試驗(yàn)用標(biāo)準(zhǔn)大氣壓下的附加儲(chǔ)存周期。
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環(huán)境溫度試驗(yàn)條件推薦按規(guī)定。設(shè)備分別置于高環(huán)境溫度和低環(huán)境溫度條件下，待設(shè)備溫升達(dá)到穩(wěn)定值后(但不小于4h)測(cè)其電氣性能。設(shè)備在額定負(fù)載條件下，模擬正常工作狀態(tài)分別在規(guī)定的高和低試驗(yàn)環(huán)境溫度下，保持規(guī)定的試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間，待設(shè)備溫升達(dá)到穩(wěn)定值后(但不小于4h)測(cè)其電氣性能。設(shè)備應(yīng)能正常、可靠工作。試驗(yàn)后，對(duì)其進(jìn)行直觀檢查，應(yīng)注意是否有元件過(guò)熱、緊固件松動(dòng)及絕緣損壞等跡象。高、低溫沖擊試驗(yàn)，高、低溫沖擊試驗(yàn)的目的是考核控制單元的儲(chǔ)存、運(yùn)輸及使用過(guò)程中受空氣溫度迅速變化的能力，同時(shí)考核印制電路板組裝件的焊接質(zhì)量及對(duì)早期失效的元器件進(jìn)行篩選。